理研CLST微細構造画像データベース電子顕微鏡の撮像条件

SEM_Condi_067
http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/ElectronMicroscopeCondition/SEM_Condi_067

SEM_Condi_067(電子顕微鏡の撮像条件)

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SEM_Condi_067

電子顕微鏡の撮像条件

走査型電子顕微鏡 http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/scanningElectronMicroscope

Field Emission Scanning Electron Microscope
http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/ScanningElectronMicroscope/JEOL_SEM001

電子銃 http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/electronGun

EMGun_067
http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/ElectronGun/EMGun_067

電子検出器 http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/electronDetector

Backscattered Electron Detector
http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/BackscatteredElectronDetector

電子顕微鏡の対物レンズ http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/electronObjective

http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/ElectronObjective/SEM_067

電子顕微鏡のステージレベル http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/electronStageLevel

SEM_067
http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/ElectronStageLevel/SEM_067

画像 http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/imagingCondition