理研CLST微細構造画像データベース電子顕微鏡の撮像条件

SEM_Condi_084
http://metadb.riken.jp/db/clstMultimodalMicrostruct/riken/ElectronMicroscopeCondition/SEM_Condi_084

SEM_Condi_084

電子顕微鏡の撮像条件

走査型電子顕微鏡
電子銃
電子検出器
電子顕微鏡の対物レンズ
電子顕微鏡のステージレベル
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